紅外線測厚儀RX200

簡要描述：RX-200 測量方法:紅外線反射吸收式分光方式:旋轉(zhuǎn)過濾器方式(可以實(shí)際裝載6張) 測量距離:25mm(本體部下方面) 測量面積:5×8mm(橢圓) 尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),約4.5kg

產(chǎn)品型號：RX200
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-07-25
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詳細(xì)介紹

正反射P偏光型標(biāo)準(zhǔn)在線膜厚計(jì)!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進(jìn)行測量。

如果把紅外線照射到被測物上,就會發(fā)生與膜厚相對應(yīng)的特定波長的紅外線吸收現(xiàn)象。從透過光或鏡面金屬板的正反射光來掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關(guān)系式,可以測量膜厚。

并且,采用本公司獨(dú)自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內(nèi)部多重反射引起的誤差,提供紅外線測厚儀的硬件。

節(jié)省空間（在線）
因?yàn)槭切⌒蛡鞲衅黝^，故不受放置空間約束。只需占用現(xiàn)有生產(chǎn)線上的狹小空間。
瞬間測量
無需任何前處理。且可實(shí)現(xiàn)非破壞、非接觸的瞬間測量。
廣泛的適應(yīng)性
通過由zui大6波長組成的濾光器,可以測量各種材質(zhì)的膜厚及水分。
出眾的測量精度
通過采用本公司獨(dú)自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩(wěn)定的測量結(jié)果。
擁有值得信賴的長期穩(wěn)定性
根據(jù)周圍環(huán)境和裝置的變動,采用3波長測光方式確保長期性的精度。

用途例

LCD用光學(xué)薄膜測厚
聚合電池的隔離板測厚
彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測厚
鋁箔上的乙烯涂層測厚
防霧加工薄膜的防霧劑涂層測厚
復(fù)合膜的粘合劑涂層測厚
收縮標(biāo)簽的脫膠檢查等
鋼板上的有機(jī)附著量測量

規(guī)格

項(xiàng)目	規(guī)格
測量方法	紅外線反射吸收式
分光方式	旋轉(zhuǎn)過濾器方式（可以實(shí)際安裝6張）
測量距離	25mm（從本體部下面）
測量面積	5×8mm（橢圓）
尺寸、重量、電源	傳感器頭	230（W）×134（D）×90（H）、約4.5kg（不含突起部）
	數(shù)據(jù)處理部	275（W）×300（D）×165（H）、約6.7kg（不含突起部）
	中繼單元部	250（W）×140（D）×113（H）、約3kg（不含突起部）
外部輸出	從模擬0～10v 到4～20mA進(jìn)行選擇（出廠時(shí)設(shè)定）
環(huán)境溫度	0～40℃（沒有結(jié)露）
電源	AC100V±10％　50/60Hz

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紅外線測厚儀RX200

正反射P偏光型標(biāo)準(zhǔn)在線膜厚計(jì)!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進(jìn)行測量。

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